高低温低气压试验箱是为电子工业、国防、航空航天及科研院所确定电子产品（包括元器件、材料设备、整机）在高低温低气压同时作用下，考核产品质量和可靠性的专用设备，同时可进行电气性能参数测量以及贮运和使用的适应能力的多种试验。为了模拟3000m高空时的温度和压力，使其性能指标更接近高空环境，因而对这一类型的高低温低气压试验箱提出很高的要求。国标GB11159-2010《低气压试验箱技术条件》和GB10591-2006《高温 低气压试验箱技术条件》及GB10590-2006《高低温低气压试验箱技术条件》中对此都有明确规定。

    回顾以往的高低温低气压试验箱是温度试验与压力试验分开进行的，先做温度试验而后再做压力试验。由于设计时的局限，做压力试验时造成低温温度回升15℃～20℃，满足不了试件对试验设备的技术要求，与真正的高空环境有误差。