| 高低温低气压试验设备是为电子工业、国防、航空航天及科研院所确定电子产品(包括元器件、材料设备、整机)在高低温低气压同时作用下,考核产品质量和可靠性的专用设备,同时可进行电气性能参数的测量以及贮运和使用的适应能力的多种试验。为了模拟30000m高空时的温度和压力,使其性能指标更接近高空环境,因而对这一类型的环境试验设备提出很高的要求。国标GB11159-89《低气压试验箱技术条件》和GB10591-89《高温/低气压试验箱技术条件》及GB10590-89《低温/低气压试验箱技术条件》中对此都有明确规定。回顾以往的高低温低气压设备是温度试验与压力试验分开进行的,先做温度试验而后再做压力试验。由于设计时的局限,做压力试验时造成低温温度回升达15℃～20℃,满足不了试件对试验设备的技术要求,与真正的高空环境有误差。如何解决温度的漂移是我们国家这一类试验设备的一大难题。如何满足GB10591-89和GB10590-89等标准所规定的技术要求和试验方法来保证电子原器件的可靠性就必须具有高性能的气候环境试验设备。 |
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